星闪作为新一代短距无线通信技术，正在多个行业快速发展，联盟成员已突破千家。本文将聚焦其低功耗接入模式（Sparklink Low Energy，SLE），介绍其物理层架构、帧结构及测试方法，并展示V93000针对星闪SLE芯片的量产测试方案。

什么是星闪？

星闪（英语：Sparklink，也称Nearlink）是一种无线电短距离通信技术，由国际星闪联盟负责制定、维护和推广。星闪联盟成立于2020年9月22日，截至2025年2月，会员单位已超过1100家，覆盖家电、汽车、芯片、模块、应用、ICT企业、科研机构及测试仪器厂商等多个领域，其中芯片厂商超过40家。爱德万测试也已于 2024年加入星闪联盟测试认证组。

国际星闪联盟愿景和运作框架（Source: https://sparklink.org.cn）

星闪的主要应用领域

智能制造：如工厂机器人与传感器的高效协同与精准控制智能汽车：如车钥匙、车载摄像头等，提升车辆的智能体验智能家居：如音响、电视等设备，实现便捷舒适的家庭互联智能设备：如可穿戴设备，支持个性化、实时的数据交互

通过星闪，这些设备可实现快速、稳定、安全的“即连即用”连接，为各行业的智能化升级提供坚实的通信基础。

星闪的两种主要模式架构：SLE 与 SLB

低功耗接入（Sparklink Low Energy，SLE）：低功耗、低延迟。专为低功耗设备设计，适用于耳机、鼠标、车钥匙等轻量级应用。其特点包括：

功耗低于2mA，延迟仅250微秒支持可靠组播、安全配对、短时互通等功能使用2.4GHz和5GHz ISM频段，带宽为1/2/4MHz支持p/4-QPSK和p/8-8PSK调制，速率最高达12Mbps（约为蓝牙的4倍）最多支持256设备同时接入

基础接入（Sparklink Basic，SLB）：高速、高容量、高精度。面向高数据量和高精度场景，如高清视频传输、大文件共享和精准定位。其技术优势包括：

数据速率最高达1.2Gbps，延迟低至20微秒支持5GHz频段，带宽范围从20MHz到500MHz支持多种调制方式与多载波通信引入超短帧、多点同步、异步HARQ等先进技术最多支持4096设备同时接入

星闪SLE与蓝牙的技术对比

星闪SLE与蓝牙的技术对比

星闪SLE 的典型测试项目

SLE测试包含了发射（TX）测试和接收（RX）测试项目。

TX 测试项目：

输出功率范围（Output Power Range）

调制精度（Modulation Accuracy）

GFSK 频率偏差（GFSK Frequency Deviation）PSK 误差矢量幅度（PSK EVM）（π/2-BPSK、π/4-QPSK、π/8-8PSK）频率容限（Frequency Tolerance）时钟精度（Clock Precision）

非期望发射（Unwanted Transmission）

GFSK / PSK 频段内发射（Transmission in the GFSK/PSK Frequency Band）频段外发射杂散 (Out-of-Band Spurious Emission of the Transmitter)

RX 测试项目：

接收功率范围（Receiver Power Range）

参考灵敏度（Reference Sensitivity）最大输入电平（Maximum Input Level）

接收机选择性（Receiver Selectivity）

接收机杂散发射（Spurious Emission of the Receiver）

接收器RSSI 测量精度（RSSI Measurement Accuracy of the Receiver）

在ATE量产测试中，重点关注输出功率、GFSK频偏、PSK EVM、频段内发射及接收灵敏度等关键指标。与传统IoT芯片相比，星闪SLE采用了全新的测试标准，尤其在调制精度（EVM）测试上，需要配合定制化调制解调库才能满足其测试要求。

面对这些全新的测试标准和要求，选择一套既能覆盖星闪SLE特性、又能兼顾效率与成本的量产测试平台至关重要。V93000 EXA搭配Wave Scale RF板卡正是为应对这些挑战而打造的高集成度射频测试方案。

星闪SLE测试挑战及V93000测试方案

爱德万测试在射频测试领域深耕多年，在高频与复杂射频芯片量产测试方面保持行业领先。针对星闪SLE芯片的量产测试挑战，V93000 EXA平台提供了一站式解决方案，对应以下关键需求：

挑战1：高度集成的星闪SLE芯片→ V93000 EXA综合平台

星闪SLE芯片通常将数字、模拟和射频模块高度集成。V93000 EXA可在同一平台上完成射频、数字、模拟的全方位测试，实现测试资源的最大化利用，并有效降低整体成本。

挑战2：多样化测试需求+高效率/低成本→ WSRF系列板卡+高并行测试能力

V93000 EXA搭配WSRF系列射频板卡，既满足星闪SLE频率和带宽的覆盖，又支持高并行测试以提升效率、降低单颗芯片测试成本：

WSRF8（Wave Scale RF8）：单板集成4个RF子系统，32个射频端口，频率范围10 MHz–8 GHz，带宽200 MHz。WSRF20ex（Wave Scale RF20ex）：2024 年11月发布，单板集成8个RF子系统，64个射频端口，频率范围50MHz–20GHz，带宽高达2GHz。

无论选择WSRF8还是WSRF20ex，都能覆盖星闪SLE芯片的测试需求。即便仅启用2个RF子系统（16个射频端口），也能实现16 sites并行测试，大幅提升效率、缩短单颗芯片测试时间，从而显著降低产线成本。

V93000 Wave Scale RF方案

V93000星闪SLE 16 sites方案

挑战3：全新星闪调制解调标准→ SmarTest8信号调制解调库

V93000搭载SmarTest8软件，内置功能强大的信号调制解调库，支持星闪SLE、Wi-Fi 6/7、4G、5G、卫星通信及未来6G技术的测试需求，为产品迭代和新标准落地预留充足扩展空间。

V93000星闪SLE调制解调库

凭借V93000 EXA的高集成硬件平台、灵活架构和丰富的射频测试经验，爱德万测试能够为星闪芯片厂商提供高效、可靠、可扩展的量产测试保障，加速产品从研发到规模化上市。